Study of X-ray Difrectometer (XRD)

Il libro "Study of X-ray Difrectometer (XRD)" di Ruchi Chandrakar offre un'analisi completa dei metodi per la preparazione ottimale dei campioni XRD. La qualità dei dati del diffrattometro a raggi X dipende in modo cruciale dalla corretta preparazione dei campioni. Errori in questo processo possono complicare l'identificazione delle fasi e rendere imprecise le stime di frequenze e cristallinità. L'opera tratta delle condizioni ideali per la preparazione dei campioni, inclusa la necessità di un'orientazione casuale dei cristalli e di un numero sufficiente di cristalliti per garantire una distribuzione di intensità rappresentativa. Inoltre, viene sottolineata l'importanza dei materiali strutturalmente modificati in diverse applicazioni, in particolare per quanto riguarda le interazioni tra solidi e gas. L'analisi delle strutture a raggi X di sodio liquido, potassio e leghe sodio-potassio è illustrata attraverso un metodo migliorato che consente un'analisi precisa dei metalli liquidi.