Control Charts and Machine Learning for Anomaly Detection in Manufacturing

Il libro "Control Charts and Machine Learning for Anomaly Detection in Manufacturing" di Kim Phuc Tran offre un'introduzione completa alle ultime ricerche su grafici di controllo avanzati e approcci innovativi di apprendimento automatico per la rilevazione di anomalie nel campo della produzione intelligente. Combina metodi statistici con tecniche moderne di apprendimento automatico per promuovere collaborazioni interdisciplinari tra diversi ambiti di ricerca. Questo è particolarmente rilevante nel contesto della quarta rivoluzione industriale, dove sono necessari nuovi approcci per la rilevazione delle anomalie. Il libro include algoritmi pratici e schede di parametri che consentono ai lettori di progettare grafici di controllo avanzati e apprendimento automatico per la rilevazione di anomalie nella produzione. Casi studio in ogni capitolo supportano i professionisti nell'applicazione di questi strumenti nei processi produttivi reali. È rivolto a ricercatori, professionisti e studenti nei settori dell'ingegneria, automazione, apprendimento statistico e industria manifatturiera.