CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

Il libro "CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies" offre un'analisi approfondita delle metodologie di progettazione e test per circuiti SRAM nelle moderne tecnologie a nano-scala. Tratta gli aspetti fondamentali del funzionamento degli SRAM e approfondisce in dettaglio la progettazione elettrica e fisica delle celle SRAM. Un tema centrale del libro è il legame tra la tecnologia di processo e la progettazione dei circuiti SRAM, con un focus sulle sfide e le soluzioni nel campo dei test di stabilità. Gli autori, Andrei Pavlov e Manoj Sachdev, presentano un approccio orientato al processo e sostenibile per il testing degli SRAM, rilevante sia per i professionisti che per gli studenti. Questo libro di testo è una risorsa preziosa per chiunque desideri approfondire le ultime novità nel campo della tecnologia SRAM.