Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Patrick Girard, Nicola Nicolici, Xiaoqing Wen, 2014Più di 10 pezzi in stock presso il fornitore
Informazioni sul prodotto
Il libro "Power-aware testing and test strategies for low power devices" offre un'analisi completa delle sfide e delle strategie nel campo della gestione energetica per circuiti e sistemi nell'industria dei semiconduttori. Data l'importanza crescente dell'efficienza energetica, questo volume specialistico tratta diverse tecniche come l'adattamento dinamico della tensione, il clock gating e le strategie di gestione dell'energia. Questi metodi sono fondamentali per minimizzare le perdite energetiche durante il funzionamento. L'opera mette in luce gli impatti di queste strategie sui test di produzione e sottolinea la necessità di un test power-aware, che viene sempre più integrato nel processo di design-for-test. Inoltre, vengono esaminate soluzioni e strategie di test esistenti per dispositivi convenzionali ed energeticamente efficienti, rendendo il libro una risorsa preziosa per professionisti e studenti nel campo della tecnologia dei semiconduttori.
argomento | Tecnologia & IT |
Autore | Nicola Nicolici, Patrick Girard, Xiaoqing Wen |
Copertina del libro | Copertina rigida |
Anno | 2014 |
No. di articolo | 55574931 |
Editore | Springer |
Categoria | Libro specialistico |
Data di rilascio | 4.3.2025 |
argomento | Tecnologia & IT |
Autore | Nicola Nicolici, Patrick Girard, Xiaoqing Wen |
Anno | 2014 |
Copertina del libro | Copertina rigida |
Anno | 2014 |
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