Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

Patrick Girard, Nicola Nicolici, Xiaoqing Wen, 2014
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Informazioni sul prodotto

Il libro "Power-aware testing and test strategies for low power devices" offre un'analisi completa delle sfide e delle strategie nel campo della gestione energetica per circuiti e sistemi nell'industria dei semiconduttori. Data l'importanza crescente dell'efficienza energetica, questo volume specialistico tratta diverse tecniche come l'adattamento dinamico della tensione, il clock gating e le strategie di gestione dell'energia. Questi metodi sono fondamentali per minimizzare le perdite energetiche durante il funzionamento. L'opera mette in luce gli impatti di queste strategie sui test di produzione e sottolinea la necessità di un test power-aware, che viene sempre più integrato nel processo di design-for-test. Inoltre, vengono esaminate soluzioni e strategie di test esistenti per dispositivi convenzionali ed energeticamente efficienti, rendendo il libro una risorsa preziosa per professionisti e studenti nel campo della tecnologia dei semiconduttori.

Le specifiche più importanti in sintesi

argomento
Tecnologia & IT
Autore
Nicola NicoliciPatrick GirardXiaoqing Wen
Copertina del libro
Copertina rigida
Anno
2014
No. di articolo
55574931

Informazioni generali

Editore
Springer
Categoria
Libro specialistico
Data di rilascio
4.3.2025

Caratteristiche del libro

argomento
Tecnologia & IT
Autore
Nicola NicoliciPatrick GirardXiaoqing Wen
Anno
2014
Copertina del libro
Copertina rigida
Anno
2014

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Contributo climatico

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