Noise Figure Characterization

Il libro "Noise Figure Characterization" offre un'introduzione completa al concetto di Noise Figure (NF) e ai metodi per effettuare misurazioni di NF. È rivolto sia a studenti che a professionisti e si concentra sulla misurazione della NF a livello di wafer. L'opera tratta le basi del NF, comprese le definizioni e le fonti, e fornisce una panoramica dettagliata sui principi della misurazione del NF. Un aspetto centrale del libro è l'integrazione del sistema di misurazione NF con la misurazione dei parametri S, al fine di ottenere risultati più accurati. Gli autori spiegano i vari elementi che entrano nel setup di misurazione e offrono rappresentazioni grafiche per collegare il dispositivo in prova (Device under Test, DUT) con lo strumento di misurazione. I DUT utilizzati sono disponibili in commercio e le loro specifiche sono pubblicate, garantendo così l'affidabilità dei risultati.