Control Charts and Machine Learning for Anomaly Detection in Manufacturing

Le livre "Control Charts and Machine Learning for Anomaly Detection in Manufacturing" de Kim Phuc Tran offre une introduction complète aux dernières recherches sur les cartes de contrôle avancées et les approches innovantes de l'apprentissage automatique pour la détection d'anomalies dans le domaine de la fabrication intelligente. Il combine des méthodes statistiques avec des techniques modernes d'apprentissage automatique pour favoriser des collaborations interdisciplinaires entre différents domaines de recherche. Cela est particulièrement pertinent dans le contexte de la quatrième révolution industrielle, où de nouvelles approches pour la détection d'anomalies sont nécessaires. Le livre contient des algorithmes pratiques et des fiches de paramètres qui permettent aux lecteurs de concevoir des cartes de contrôle avancées et d'utiliser l'apprentissage automatique pour la détection d'anomalies dans la fabrication. Des études de cas dans chaque chapitre aident les praticiens à appliquer ces outils dans des processus de fabrication réels. Il s'adresse aux chercheurs, aux professionnels et aux étudiants dans les domaines de l'ingénierie, de l'automatisation, de l'apprentissage statistique et de l'industrie manufacturière.