Control Charts and Machine Learning for Anomaly Detection in Manufacturing

Das Buch "Control Charts and Machine Learning for Anomaly Detection in Manufacturing" von Kim Phuc Tran bietet eine umfassende Einführung in die neuesten Forschungen zu fortschrittlichen Kontrollkarten und innovativen Ansätzen des maschinellen Lernens zur Erkennung von Anomalien im Bereich der intelligenten Fertigung. Es verbindet statistische Methoden mit modernen maschinellen Lerntechniken, um interdisziplinäre Kooperationen zwischen verschiedenen Forschungsbereichen zu fördern. Dies ist besonders relevant im Kontext der vierten industriellen Revolution, wo neue Ansätze zur Anomalieerkennung erforderlich sind. Das Buch enthält praktische Algorithmen und Parameterblätter, die es den Lesenden ermöglichen, fortschrittliche Kontrollkarten und maschinelles Lernen zur Anomalieerkennung in der Fertigung zu entwerfen. Fallstudien in jedem Kapitel unterstützen Praktiker dabei, diese Werkzeuge in realen Fertigungsprozessen anzuwenden. Es richtet sich an Forschende, Fachleute und Studierende in den Bereichen Ingenieurwesen, Automatisierung, statistisches Lernen und Fertigungsindustrie.