Name: CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Price: 167 CHF
Availability: InStock
ISBN: 9781402083624

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CMOS SRAM-Schaltungsdesign und parametrische Tests in nano-skalierten Technologien behandelt ein breites Spektrum an Themen im Zusammenhang mit dem Design und Test von SRAM. Es werden die Grundlagen des SRAM-Betriebs, das elektrische und physikalische Design der Zellen sowie ein prozessbewusster und wirtschaftlicher Ansatz für das SRAM-Testing diskutiert. Der Schwerpunkt des Buches liegt auf den Herausforderungen und Lösungen des Stabilitätstests sowie auf der Entwicklung eines Verständnisses für die Verbindung zwischen Prozesstechnologie und SRAM-Schaltungsdesign in modernen nano-skalierten Technologien.

Produktbild CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (Englisch, Hardcover, Andrei Pavlov, Manoj Sachdev)

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