Study of X-ray Difrectometer (XRD)

Le livre "Study of X-ray Difrectometer (XRD)" de Ruchi Chandrakar offre une analyse approfondie des méthodes de préparation optimale des échantillons pour la diffraction des rayons X. La qualité des données des diffractomètres à rayons X dépend de manière cruciale d'une préparation adéquate des échantillons. Des erreurs dans ce processus peuvent compliquer l'identification des phases et rendre les estimations de fréquence et de cristallinité inexactes. L'ouvrage traite des conditions idéales pour la préparation des échantillons, y compris la nécessité d'une orientation cristalline aléatoire et d'un nombre suffisant de cristallites pour garantir une distribution d'intensité représentative. De plus, l'importance des matériaux structurellement modifiés dans diverses applications est mise en avant, notamment en ce qui concerne les interactions entre solides et gaz. L'étude des structures aux rayons X du sodium liquide, du potassium et des alliages sodium-potassium est illustrée par une méthode améliorée qui permet une analyse précise des métaux liquides.