CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

Le livre "CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies" offre une analyse approfondie des méthodes de conception et de test pour les circuits SRAM dans les technologies modernes à échelle nano. Il aborde les aspects fondamentaux du fonctionnement des SRAM et traite en détail de la conception électrique et physique des cellules SRAM. Un thème central du livre est le lien entre la technologie de processus et la conception des circuits SRAM, avec un accent sur les défis et les solutions dans le domaine des tests de stabilité. Les auteurs, Andrei Pavlov et Manoj Sachdev, présentent une approche axée sur le processus et économique pour le test des SRAM, qui est pertinente tant pour les professionnels que pour les étudiants. Cet ouvrage spécialisé est une ressource précieuse pour tous ceux qui souhaitent se familiariser avec les dernières avancées dans le domaine de la technologie SRAM.