Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Patrick Girard, Nicola Nicolici, Xiaoqing Wen, 2014Plus de 10 pièces en stock chez le fournisseur
Informations sur le produit
Le livre "Power-aware testing and test strategies for low power devices" offre une analyse approfondie des défis et des stratégies en matière de gestion de l'énergie pour les circuits et systèmes dans l'industrie des semi-conducteurs. Compte tenu de l'importance croissante de l'efficacité énergétique, cet ouvrage traite de diverses techniques telles que l'ajustement dynamique de la tension, le gating d'horloge et les stratégies de gestion de l'énergie. Ces méthodes sont essentielles pour minimiser les pertes d'énergie pendant le fonctionnement. L'ouvrage met en lumière les impacts de ces stratégies sur les tests de fabrication et souligne la nécessité d'un test conscient de l'énergie, qui est de plus en plus intégré dans le processus de conception pour le test. De plus, il examine les solutions existantes et les stratégies de test pour les appareils conventionnels et écoénergétiques, ce qui fait de ce livre une ressource précieuse pour les professionnels et les étudiants dans le domaine de la technologie des semi-conducteurs.
thème | Technique & IT |
Auteur | Nicola Nicolici, Patrick Girard, Xiaoqing Wen |
Couverture du livre | Couverture cartonnée |
Année | 2014 |
Numéro d'article | 55574931 |
Éditeur | Springer |
Catégorie | Livres spécialisés |
Date de sortie | 4/3/2025 |
thème | Technique & IT |
Auteur | Nicola Nicolici, Patrick Girard, Xiaoqing Wen |
Année | 2014 |
Couverture du livre | Couverture cartonnée |
Année | 2014 |
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Critiques et opinions
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- 41.rororo0,1 %
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- 44.Various Publishers1 %
- 50.Droemer Knaur1,1 %