Advances in X-Ray Analysis

Marie Fay, William M. Mueller, Gavin R. Mallett, 2013
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Informations sur le produit

"Advances in X-Ray Analysis" est un ouvrage spécialisé qui traite des dernières avancées et technologies dans le domaine de l'analyse par rayons X. Il offre une vue d'ensemble des progrès réalisés ces dernières années dans ce domaine scientifique. Les auteurs, Gavin R. Mallett et William M. Mueller, mettent en lumière les défis découlant du développement rapide des connaissances scientifiques et discutent de la nécessité d'une formation continue au sein de la communauté scientifique. Le livre s'adresse aux professionnels et aux étudiants souhaitant acquérir une compréhension approfondie des technologies et méthodes complexes de l'analyse par rayons X. C'est un précieux ouvrage de référence pour tous ceux qui s'intéressent aux mathématiques et aux sciences naturelles et qui souhaitent suivre les dernières tendances et techniques en matière d'analyse par rayons X.

Spécifications principales

thème
Mathématiques & sciences
Auteur
Gavin R. MallettMarie FayWilliam M. Mueller
Couverture du livre
Couverture cartonnée
Année
2013
Numéro d'article
55560870

Informations générales

Éditeur
Springer
Catégorie
Livres spécialisés
Date de sortie
4/3/2025

Propriétés du livre

thème
Mathématiques & sciences
Auteur
Gavin R. MallettMarie FayWilliam M. Mueller
Année
2013
Couverture du livre
Couverture cartonnée
Année
2013

Contribution climatique volontaire

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