Study of X-ray Difrectometer (XRD)

Das Buch "Study of X-ray Difrectometer (XRD)" von Ruchi Chandrakar bietet eine umfassende Analyse der Methoden zur optimalen Vorbereitung von XRD-Proben. Die Qualität der X-ray Diffraktometer-Daten hängt entscheidend von der richtigen Probenvorbereitung ab. Fehler in diesem Prozess können die Phasenidentifikation erschweren und die Schätzungen von Häufigkeiten und Kristallinität ungenau machen. Das Werk behandelt die idealen Bedingungen für die Probenvorbereitung, einschliesslich der Notwendigkeit einer zufälligen Kristallorientierung und einer ausreichenden Anzahl von Kristalliten, um eine repräsentative Intensitätsverteilung zu gewährleisten. Darüber hinaus wird die Bedeutung strukturell veränderter Materialien in verschiedenen Anwendungen hervorgehoben, insbesondere in Bezug auf die Wechselwirkungen zwischen Feststoffen und Gasen. Die Untersuchung der Röntgenstrukturen von flüssigem Natrium, Kalium und Natrium-Kalium-Legierungen wird durch eine verbesserte Methode veranschaulicht, die eine präzise Analyse von flüssigen Metallen ermöglicht.