Advances in X-Ray Analysis

Marie Fay, William M. Mueller, Gavin R. Mallett, 2013
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Produktinformationen

"Advances in X-Ray Analysis" ist ein Fachbuch, das sich mit den neuesten Entwicklungen und Technologien im Bereich der Röntgenanalyse beschäftigt. Es bietet eine umfassende Betrachtung der Fortschritte, die in den letzten Jahren in diesem wissenschaftlichen Bereich erzielt wurden. Die Autoren, Gavin R. Mallett und William M. Mueller, beleuchten die Herausforderungen, die sich aus der rasanten Entwicklung des wissenschaftlichen Wissens ergeben, und diskutieren die Notwendigkeit einer kontinuierlichen Weiterbildung innerhalb der wissenschaftlichen Gemeinschaft. Das Buch richtet sich an Fachleute und Studierende, die ein tieferes Verständnis für die komplexen Technologien und Methoden der Röntgenanalyse erlangen möchten. Es ist ein wertvolles Nachschlagewerk für alle, die sich mit Mathematik und Naturwissenschaften beschäftigen und die neuesten Trends und Techniken in der Röntgenanalyse verfolgen wollen.

Das Wichtigste auf einen Blick

Thema
Mathematik & Naturwissenschaften
Autor
Gavin R. MallettMarie FayWilliam M. Mueller
Bucheinband
Kartonierter Einband
Jahr
2013
Artikelnummer
55560870

Allgemeine Informationen

Verlag
Springer
Kategorie
Fachbücher
Release-Datum
4.3.2025

Buch Eigenschaften

Thema
Mathematik & Naturwissenschaften
Autor
Gavin R. MallettMarie FayWilliam M. Mueller
Jahr
2013
Bucheinband
Kartonierter Einband
Jahr
2013

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