Noise Figure Characterization

Das Buch "Noise Figure Characterization" bietet eine umfassende Einführung in das Konzept des Noise Figure (NF) und die Methoden zur Durchführung von NF-Messungen. Es richtet sich sowohl an Studierende als auch an Fachleute und legt den Schwerpunkt auf die Messung von NF auf Wafer-Ebene. Das Werk behandelt die Grundlagen des NF, einschliesslich der Definitionen und der Quellen, und bietet eine detaillierte Übersicht über die Prinzipien der NF-Messung. Ein zentrales Merkmal des Buches ist die Integration des NF-Messsystems mit der S-Parameter-Messung, um genauere Ergebnisse zu erzielen. Die Autoren erläutern die verschiedenen Elemente, die in den Messaufbau einfliessen, und bieten grafische Darstellungen zur Verbindung des Prüfobjekts (Device under Test, DUT) mit dem Messinstrument. Die verwendeten DUTs sind kommerziell erhältlich und ihre Spezifikationen sind veröffentlicht, was die Zuverlässigkeit der Ergebnisse gewährleistet.